Περίληψη μαθήματος
- Γενικές αρχές: Γεωµετρική και Φυσική Οπτική | Είδωλα | Φακοί | Απλό και σύνθετο µικροσκόπιο | Διαφράγµατα | Δίσκοι Airy | Διακριτική Ικανότητα.
- Η εξέλιξη του µικροσκοπίου: Η/Μ Ακτινοβολία | Κύµατα Ηλεκτρονίων | Μικροσκόπιο ακτίνων Χ | µαγνητικοί φακοί.
- Είδη ηλεκτρονικών µικροσκοπίων: ΤΕΜ, ΤΕΜ/R, STEM, SEM, EXMA, AFM, Φωταύγεια | Μικροσκόπια εκποµπής ηλεκτρονίων και ιόντων.
- Ιδιότητες µαγνητικών φακών: Δοµή Υστέρηση | Εκτροπές φακών (Σφαιρική - Αλλοίωση - Περιστροφή - Αστιγµατισµός - Χρωµατισµός) | Βάθος πεδίου και βάθος εστίασης.
- Σχηµατισµός ειδώλου και αντίθεση: Προετοιµασία δείγµατος | Διαδικασία σχηµατισµού ειδώλου | Σκέδαση | Πυκνότητα µάζας | Απορρόφηση | Διαφράγµατα | Θόρυβος
- Σύστημα κενού: Μονάδες και Ονοματολογία | Δημιουργία Κενού | Όργανα Μέτρησης Κενού | Σχεδιασµός ενός συστήµατος κενού.
- Θεωρία κενού: Βασικές παραδοχές της κινητικής θεωρίας των αερίων | Εφαρµογή κινητικής θεωρίας | Λειτουργία αντλιών.
Μέρος Β
- Σύγχρονο Η.Μ. Διέλευσης: Εισαγωγικά | Φυσικά διαφράγµατα | Φακοί | Συστήµατα απεικόνισης | Εφαρμογές.
- Σύγχρονο Η.Μ. Σάρωσης: Εισαγωγικά | Προετοιµασία δειγµάτων | Μέθοδοι ανάλυσης | Δημιουργία Εικόνας | Ανατομία Η.Μ. Σάρωσης | Εφαρµογές
- Μικροσκοπία σάρωσης με ακίδα / Μικροσκοπία Ατομικής Δυνάμεως:
Εισαγωγικά | Βασικές Αρχές | Αρχή και Τρόποι Λειτουργίας | Γεωμετρία
ακίδας και μορφολογίας της επιφάνειας | Προετοιµασία δειγµάτων |
Εφαρµογές
Μέρος Γ
- Δοµή κρυστάλλων: Μελέτη Δοµών | Συστήµατα κρυστάλλωσης Bravais, Δείκτες Miller, Αντίστροφα πλέγµατα | Ατέλειες
- Περίθλαση ηλεκτρονίων: Νόµος Bragg | Μέθοδοι απεικόνισης και ανάλυσης | Προσδιορισµός δοµών | Ατέλειες δοµών | Ενδοεπιφανειών και υπέρλεπτων υµενίων
- Εισαγωγή στη µικροανάλυση ακτίνων-Χ: Αρχές και Παραγωγή ακτίνων - Χ | Φάσµα | Χαρακτηριστικές γραµµές | Τοπογραφία
- Ανίχνευση ακτίνων Χ (WDS, EDS): Διαδικασία ανάλυσης και προβλήµατα.
- Ποιοτική και ποσοτική µικροανάλυση (Μέθοδος ZAF): Ενεργειακά φάσµατα | Παράγοντες Κa, Κz, Kf Ποσοτική ανάλυση | Μέθοδος ΖΑF | Εφαρµογές
Μέρος Α
Τελευταία τροποποίηση: Κυριακή, 20 Σεπτεμβρίου 2015, 6:39 PM