Μέρος Α

  • Γενικές αρχές: Γεωµετρική και Φυσική Οπτική | Είδωλα | Φακοί | Απλό και σύνθετο µικροσκόπιο | Διαφράγµατα | Δίσκοι Airy | Διακριτική Ικανότητα.
  • Η εξέλιξη του µικροσκοπίου: Η/Μ Ακτινοβολία | Κύµατα Ηλεκτρονίων | Μικροσκόπιο ακτίνων Χ | µαγνητικοί φακοί.
  • Είδη ηλεκτρονικών µικροσκοπίων: ΤΕΜ, ΤΕΜ/R, STEM, SEM, EXMA, AFM, Φωταύγεια | Μικροσκόπια εκποµπής ηλεκτρονίων και ιόντων.
  • Ιδιότητες µαγνητικών φακών: Δοµή Υστέρηση | Εκτροπές φακών (Σφαιρική - Αλλοίωση - Περιστροφή - Αστιγµατισµός - Χρωµατισµός) | Βάθος πεδίου και βάθος εστίασης.
  • Σχηµατισµός ειδώλου και αντίθεση: Προετοιµασία δείγµατος | Διαδικασία σχηµατισµού ειδώλου | Σκέδαση | Πυκνότητα µάζας | Απορρόφηση | Διαφράγµατα | Θόρυβος
  • Σύστημα κενού: Μονάδες και Ονοματολογία | Δημιουργία Κενού | Όργανα Μέτρησης Κενού | Σχεδιασµός ενός συστήµατος κενού.
  • Θεωρία κενού: Βασικές παραδοχές της κινητικής θεωρίας των αερίων | Εφαρµογή κινητικής θεωρίας | Λειτουργία αντλιών.

    Μέρος Β

  • Σύγχρονο Η.Μ. Διέλευσης: Εισαγωγικά | Φυσικά διαφράγµατα | Φακοί | Συστήµατα απεικόνισης | Εφαρμογές.
  • Σύγχρονο Η.Μ. Σάρωσης: Εισαγωγικά | Προετοιµασία δειγµάτων | Μέθοδοι ανάλυσης | Δημιουργία Εικόνας | Ανατομία Η.Μ. Σάρωσης | Εφαρµογές
  • Μικροσκοπία σάρωσης με ακίδα / Μικροσκοπία Ατομικής Δυνάμεως: Εισαγωγικά | Βασικές Αρχές | Αρχή και Τρόποι Λειτουργίας | Γεωμετρία ακίδας και μορφολογίας της επιφάνειας | Προετοιµασία δειγµάτων | Εφαρµογές

    Μέρος Γ

  • Δοµή κρυστάλλων: Μελέτη Δοµών | Συστήµατα κρυστάλλωσης Bravais, Δείκτες Miller, Αντίστροφα πλέγµατα | Ατέλειες
  • Περίθλαση ηλεκτρονίων: Νόµος Bragg | Μέθοδοι απεικόνισης και ανάλυσης | Προσδιορισµός δοµών | Ατέλειες δοµών | Ενδοεπιφανειών και υπέρλεπτων υµενίων
  • Εισαγωγή στη µικροανάλυση ακτίνων-Χ: Αρχές και Παραγωγή ακτίνων - Χ | Φάσµα | Χαρακτηριστικές γραµµές | Τοπογραφία
  • Ανίχνευση ακτίνων Χ (WDS, EDS): Διαδικασία ανάλυσης και προβλήµατα.
  • Ποιοτική και ποσοτική µικροανάλυση (Μέθοδος ZAF): Ενεργειακά φάσµατα | Παράγοντες Κa, Κz, Kf Ποσοτική ανάλυση | Μέθοδος ΖΑF | Εφαρµογές
Last modified: Sunday, 20 September 2015, 6:39 PM